• SIC芯片分选系统(Wafer to Tape Reel)
SIC芯片分选系统(Wafer to Tape Reel)
个人微信 个人微信

服务咨询热线:

联系人:陈先生 180 9890 5354

在线留言 联系我们

详情说明
性能:

芯片加温温控系统,温度精准可调

实现高温DC、高温AC、雪崩测试、常温DC测试

视觉检测:非接触式器件校正器一保障器件不会因为接触动作而损坏

智能科技:实现精准力控,可提供简易机器调整和最佳器件保护

人性化的操作界面,助力更高效的调试和切换型号

测试Socket带有空气和氮气测试前清洁功能

可利用Mapping分类器件

晶圆重建

配置:

输入:最大8寸Wafer

输出:5组Tape&Reel

最小检测精度:15um(正面);15um(背面);15um(侧面)

适应尺寸:

Die Size:2 x 2 to 9 x 9 mm

  • 联系人:陈先生 / 180 9890 5354

  • 联系人:甘先生 / 138 2523 6561

     
  • 电 话:0755-23219284

  • 地 址:深圳市宝安区福海街道展城社区福园二路10号濠和智创A栋108、212

  • 手机网站
  • 微信咨询
  • 深圳市华芯智能装备有限公司 版权所有 © Copyright 【网站管理】 【BMAP】 【GMAP】 【百度统计】 【粤ICP备2022016506号
    • 陈先生

      180 9890 5354
    • 甘先生

      138 2523 6561
    • 手机网站

      手机网站